霍爾探頭尺寸對(duì)測(cè)試值的影響

 對(duì)用霍爾效應(yīng)法測(cè)量磁體表面磁場(chǎng)的探討

內(nèi)容簡(jiǎn)介：本文定性分析了用霍爾效應(yīng)法不可能真正測(cè)出表面磁場(chǎng)量值的原因。

根據(jù)霍爾效應(yīng)原理制成的特斯拉計(jì)（高斯計(jì)）在測(cè)量磁場(chǎng)中，有著廣泛的應(yīng)用。這種儀器是由作為傳感器的霍爾探頭及儀表整機(jī)兩部分組成。其中探頭內(nèi)霍爾元件的尺寸、性能與封裝結(jié)構(gòu)對(duì)磁場(chǎng)測(cè)量的準(zhǔn)確度起著關(guān)鍵的作用。 您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！

霍爾效應(yīng)特斯拉計(jì)對(duì)均勻、恒定磁場(chǎng)測(cè)量的準(zhǔn)確度一般在5%—0.5%，高精度的測(cè)量準(zhǔn)確度可以達(dá)到0.05%。但對(duì)磁體表面的非均勻磁場(chǎng)的測(cè)量就談不上準(zhǔn)確度了。往往是不同的儀表，或同型號(hào)的儀表，不同的探頭，或同一支探頭的不同側(cè)面，去測(cè)量同一磁體表面，同一位置（應(yīng)該說(shuō)看上去是同一位置）的磁場(chǎng)時(shí)，顯示的結(jié)果大不一樣，誤差可以超過(guò)20%，甚至50%。您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！

造成上述差別的原因有兩點(diǎn)：其一，不同探頭內(nèi)霍爾元件封裝的位置不同，或元件不在探頭兩側(cè)的中部。這些探頭在均勻磁場(chǎng)中，不會(huì)因位置上的改變而感受到磁場(chǎng)的改變，測(cè)量數(shù)據(jù)也不會(huì)因位置的不同而帶來(lái)誤差。當(dāng)用不同的探頭去測(cè)磁體表面發(fā)散的、不均勻的磁場(chǎng)時(shí)，雖然表面看上去是放到了同一位置，而內(nèi)部霍爾元件感受到的并不是同一位置的磁場(chǎng)。感受到的場(chǎng)值不同，測(cè)量結(jié)果當(dāng)然不一樣。見(jiàn)不同磁體磁場(chǎng)示意圖。一般，對(duì)于徑向探頭，厚度越小，內(nèi)部霍爾元件離表面越近，測(cè)量表面磁場(chǎng)顯示讀數(shù)越大。采用超薄探頭去測(cè)表面磁場(chǎng)時(shí)讀數(shù)可以高于常規(guī)探頭20%以上（被測(cè)磁體尺寸越小，磁體表面曲率越大，表面磁場(chǎng)越不均勻，測(cè)量數(shù)據(jù)差別越大），但是無(wú)論多薄的探頭，其內(nèi)部對(duì)磁場(chǎng)敏感的部分與磁體表面總有一個(gè)間距，不可能為零距*。所以說(shuō)，不可能測(cè)到真正的表面磁場(chǎng)。只能說(shuō)，使用的探頭越薄，讀數(shù)越能反映出磁體的表面磁場(chǎng)。您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！

原因之二是：不同型號(hào)的霍爾探頭內(nèi)，所封裝霍爾元件的敏感區(qū)尺寸不同。早期的體形霍爾元件，如鍺、硅霍爾元件，尺寸一般為4×2㎜2也有6×3㎜2、8×4㎜2、*小為1.5×1.5㎜2，有效的敏感區(qū)基本上是元件本身的尺寸，面積大。若用這種霍爾元件來(lái)對(duì)磁力線發(fā)散的小磁體、磁體邊角部分或多極充磁的表磁進(jìn)行測(cè)量。僅能反映出通過(guò)該元件表面的磁感應(yīng)強(qiáng)度的平均值。此值必定小于該區(qū)域的*大值。如果改用敏感區(qū)小的霍爾元件，如砷化鎵霍爾元件，其敏感區(qū)的有效面積約為0.1×0.1～0.2×0.2㎜2遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于體形元件的面積。這種元件就更能反映出表面磁場(chǎng)的場(chǎng)分布，所測(cè)到的*大值也更接近該區(qū)域的*大磁感應(yīng)強(qiáng)度實(shí)際值。您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！

由前面的分析可以看出，表面磁場(chǎng)的實(shí)際值（即真實(shí)值）用霍爾效應(yīng)法是根本不可能測(cè)到的。也就是說(shuō)不可能找到、建立一種統(tǒng)一的、共同的表面磁場(chǎng)的量值標(biāo)準(zhǔn)。只能去謀求測(cè)出更加接近表面磁場(chǎng)實(shí)際值的方法。